Welche Zulässigkeitsgrenze und Prüfklasse gelten, wenn eine Schweißnaht bei der PA-Prüfung die Anforderungen der Bewertungsgruppe B nach ISO 5817 erfüllen soll?

Auf welcher Grundlage erfolgt die endgültige Bewertung longitudinaler Anzeigen nach DIN EN ISO 19285?

Welche Aussage zur Anwendung eines Sektorscans ist richtig?

Welche Aussage zur Anwendung eines Kombi-Scans ist richtig?

Welche Bezugsreflektoren können nach DIN EN ISO 13588 für die Einstellung der Prüfempfindlichkeit verwendet werden?

Ein Gussteil mit hoher Schallschwächung soll mit einem 0°-Linienscan auf Lunker geprüft werden. Welcher Prüfkopf ist dafür am besten geeignet?

Wie viele Bezugsreflektoren verlangt DIN EN ISO 13588 für die Einstellung der Prüfempfindlichkeit bei einer Schweißnaht mit 30 mm Wanddicke?

Welchen Vorteil bietet die Anwendung der TCG-Funktion (zeitabhängige Verstärkungsregelung) bei der Phased-Array-Technik?

Welche Aussage zur Nahfeldlänge eines Phased-Array-Prüfkopfes ist richtig?

Wie ist eine Anzeige mit 8 dB Echohöhenüberschreitung über der Bewertungsschwelle und 10 mm Länge in einer 12 mm dicken Stumpfnaht nach DIN EN ISO 19285 zu bewerten, wenn laut Prüfanweisung Zulässigkeitsgrenze 2 und Empfindlichkeitsjustierung nach Technik 2 vorgegeben sind?

Wie lässt sich die Amplitude eines Signals im B-Bild ermitteln?

Ein Prüfkopf mit 128 Elementen wird mit einem 0°-Linienscan, 16 Elementen je Gruppe und einer Aperturschrittweite von 1 Element betrieben. Wie groß ist die Anzahl der virtuellen Schallfelder?

Welcher Reflektor eignet sich als Justierreflektor für eine Amplitudenkorrektur bei Anwendung eines Sektorscans (45° bis 70° Einschallwinkel)?

Wie groß ist die Nahfeldlänge für einen 5-MHz-PA-Prüfkopf mit 9,6 mm Apertur bei 0° Einschallwinkel in Stahl?

Welche Bezugsschwelle nach DIN EN ISO 19285 gilt für eine Schweißnaht mit 15 mm Wanddicke, wenn mit einem Winkelprüfkopf (f = 5 MHz) nach Technik 2 in Zulässigkeitsgrenze 2 geprüft wird?

Welche Schrittweiteneinstellung beim Abtasten einer Schweißnaht mit 25 mm Wanddicke schreibt DIN EN ISO 13588 vor?

Welchen Zweck erfüllt eine Amplitudenkorrektur bei Anwendung eines Linienscans mit 0° Einschallwinkel?

Welche Schallfeldparameter lassen sich über die elektronische Ansteuerung der Prüfköpfe bei der PA-Prüfung verändern?

Welche Informationen lassen sich einem C-Bild bei der Phased-Array-Prüfung entnehmen?

Wie wird gemäß DIN EN ISO 23243 ein Scan bezeichnet, bei dem der Einschallwinkel durch elektronische Ansteuerung des Array-Prüfkopfes sukzessive verändert wird?