Mit welchem Bezugsreflektor lässt sich bei einem Sektorscan die Justierung von Vorlauf bzw. Vorlaufkeil für die einzelnen Einschallwinkel durchführen?

Wie verhält sich der Abtastquerschnitt beim Linienscan mit 0° in Index-Richtung beim E-Scan?

Welche Darstellung wird typischerweise zur Dokumentation von Prüfbefunden bei der Prüfung auf Dopplungen von Blechen mit einem linearen Array, gekoppelt mit einem Wegaufnehmer, verwendet?

Wodurch wird die Ortsauflösung beim Sektorscan in der Einschallebene verbessert?

Linienscan mit Keil für Transversalwellen: Wie ändert sich der Abtastquerschnitt r, wenn der Einschallwinkel vergrößert wird?

Wie wird die abgebildete Darstellung einer Prüfung mit 0° Einschallwinkel bei der Phased-Array-Prüfung bezeichnet (l = mechanische Scanposition, t = Tiefenkoordinate)?

Welche Vorteile bietet die abgebildete Prüfanordnung gegenüber der Prüfung mit konventionellen Prüfköpfen?

Welche Informationen lassen sich einem C-Bild bei einem 0°-Linienscan entnehmen?

Welche Parameter eines Phased-Array-Prüfkopfes verändern sich bei Anwendung eines Sektorscans?

Welche Größe wird bei Anwendung eines PA-Prüfkopfes als Apertur bezeichnet?

Welcher Scantyp eignet sich am besten zur Erfassung von Flankenbindefehlern, wenn der Flankenwinkel der Nahtvorbereitung 30° beträgt?

Lässt sich beim Sektorscan (45° bis 70°, 5 MHz, 16 Elemente, z. B. Prüfkopf 5L16) das Schallfeld schrittweise elektronisch verschieben?

Mit welchem Bezugsreflektor lässt sich bei einem Sektorscan die Amplitudenkorrektur für die einzelnen Einschallwinkel durchführen?

Weshalb ist für den Linienscan mit festem Winkel eine manuelle Empfindlichkeitsjustierung erforderlich?

Ist bei PA-Prüfköpfen mit Vorlaufkeil eine praktische Entfernungsjustierung erforderlich?