UT 2 PA (Teil 2)
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Welche Größen müssen mindestens bekannt sein, um die Lage eines Reflektors bei einem 0°-Linienscan genau zu beschreiben?
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Wodurch entsteht die langgestreckte Form einer Anzeige im elektronischen Scan?
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Lässt sich mit der Gruppenstrahlertechnik der gesamte Nahtquerschnitt einer Schweißnaht mit nur einer Prüfkopfposition erfassen?
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Wovon hängt der Fokusdurchmesser eines elektronisch fokussierten Schallfeldes bei Phased-Array-Anwendungen ab?
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Welche Richtung beschreibt die sekundäre Achse eines Array-Prüfkopfes nach DIN EN 16018?
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Welche Richtung beschreibt die primäre (aktive) Achse eines Array-Prüfkopfes nach DIN EN 16018?
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Wie lässt sich die Lage des Schallaustrittspunktes für einen bestimmten Schuss innerhalb des PA-Prüfkopfes bestimmen?
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Bei einem linearen Prüfkopf mit 128 Elementen sollen jeweils 16 Elemente zu einem virtuellen Prüfkopf zusammengefasst werden. Wie viele Positionen des Schallfeldes (Schüsse) ergeben sich?
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Welche Aussage zur linearen elektronischen E-Abtastung (Linienscan) ist richtig?
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Welche Aussage zum Divergenzwinkel trifft zu?
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Welche Aussage zur Fokussierung eines PA-Prüfkopfes ist richtig?
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Was beschreibt der Begriff der Apertur?
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Ist im C-Bild eine präzise Bestimmung der Echoamplitude möglich?
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Mit welchem der genannten Array-Typen lässt sich kein Winkelschwenk durchführen?
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Wie lässt sich bei einem eindimensionalen linearen Array-Prüfkopf ein 45°-Einschallwinkel für die Prüfung mit Transversalwellen realisieren?
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